当前位置: 首页  > 学科建设  > 重点实验室  > 省重点实验室  > 正文

郑州大学刘俊杰教授来我院进行学术交流

20191217日,应我院邀请,郑州大学刘俊杰教授为我院师生作了一场题为Compact Modeling of Junction Failure in Semiconductor Devices Subject to Electrostatic Discharge Stresses的学术讲座。报告会邹望辉副教授主持,部分老师、本科生和全体研究生参加了此次讲座。

 

 

刘俊杰教授已多次来我院进行学术交流,本次刘教授带来的讲座内容与前几次讲座内容是息息相关的,紧承上次讲座介绍的静电保护。本次讲座刘教授主要向我们介绍了从静电放电与破坏的基理开始,再到静电破坏的建模,最后到模型的应用与未来的前景这几个部分。重点解说了建模时需要先对仿真模型进行等效电路的分析,确定各个参数值,在建模完成后进行仿真分析确定器件的鲁棒性等性能。讲解过程中以自己的亲身经历为例让大家深入理解报告结束后,大家都纷纷向刘教授提问,刘教授也一一进行了解答。报告内容丰富、生动、精彩,让大家都受益匪浅,报告会取得了圆满成功。


上一条:新利luck在线·(中国)有限公司官网学术活动预告- 毛军发院士

下一条:武汉大学黄启俊教授来我院作学术报告